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基于SimpleSim-ARM模拟器的软错误易感性分析与评估

Soft error vulnerability analysis and evaluation based on SimpleSim-ARM
高苗1
虞致国1
魏敬和2
顾晓峰1
1. 江南大学 电子工程系 物联网技术应用教育部工程研究中心, 江苏 无锡 214122
2. 中国电子科技集团公司第五十八研究所, 江苏 无锡 214035

摘要

随着集成电路特征尺寸的逐步缩小,随之而来快速增长的软错误率严重限制了现代微处理器的应用,因此对微处理器可靠性进行评估十分重要。在微处理器体系结构级进行软错误易感性评估能反映出微处理器部件的可靠性,提出基于SimpleSim-ARM模拟器对微处理器体系结构级进行软错误易感性评估的方法,可用于对ARM体系结构微处理器进行软错误易感性评估。根据提出方法对StrongARM SA-11xx进行软错误易感性分析,实验结果表明,在基准配置情况下,存储部件中寄存器文件的平均AVF值为57.76%;非存储部件发射队列(IQ)、保留站与重定序缓冲(RUU)与功能单元(FU)的平均AVF值分别为38.53%、32.02%和12.39%。在不同配置下,IQ和RUU部件容量越大,对应部件AVF评估值越小;FU数量越多,该部件AVF评估值越小。

基金项目

中央高校基本科研业务费资助项目(JUSR51510)
江苏省研究生科研与实践创新计划项目(SJCX17_0510,SJCX18_0647)
江苏省重点研发计划资助项目(BE2019003-2)

出版信息

DOI: 10.19734/j.issn.1001-3695.2019.02.0026
出版期卷: 《计算机应用研究》 印刷出版, 2020年第37卷 第7期
所属栏目: 系统应用开发
出版页码: 2054-2057,2062
文章编号: 1001-3695(2020)07-027-2054-04

发布历史

[2020-07-05] 印刷出版

引用本文

高苗, 虞致国, 魏敬和, 等. 基于SimpleSim-ARM模拟器的软错误易感性分析与评估 [J]. 计算机应用研究, 2020, 37 (7): 2054-2057,2062. (Gao Miao, Yu Zhiguo, Wei Jinghe, et al. Soft error vulnerability analysis and evaluation based on SimpleSim-ARM [J]. Application Research of Computers, 2020, 37 (7): 2054-2057,2062. )

关于期刊

  • 计算机应用研究 月刊
  • Application Research of Computers
  • 刊号 ISSN 1001-3695
    CN  51-1196/TP

《计算机应用研究》创刊于1984年,是由四川省科技厅所属四川省计算机研究院主办的计算技术类学术刊物。

《计算机应用研究》瞄准本学科领域迫切需要的前沿技术,及时反映国内外计算机应用研究的主流技术、热点技术及最新发展趋势。主要刊载内容包括本学科领域高水平的学术论文、本学科最新科研成果和重大应用成果。栏目内容涉及计算机学科新理论、计算机基础理论、算法理论研究、算法设计与分析、区块链技术、系统软件与软件工程技术、模式识别与人工智能、体系结构、先进计算、并行处理、数据库技术、计算机网络与通信技术、信息安全技术、计算机图像图形学及其最新热点应用技术。

《计算机应用研究》拥有众多高层次读者、作者,读者对象主要为从事计算机学科领域高、中级研究人员及工程技术人员,各高等院校计算机专业及相关专业的师生。多年来《计算机应用研究》的总被引频次及Web下载率一直名列本学科同类学术刊物前茅,所刊发的学术论文以其新颖性、学术性、前瞻性、导向性、实用性而备受广大读者的喜爱。


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